AKTS - Kalite Kontrol ve Metroloji
Kalite Kontrol ve Metroloji (MFGE577) Ders Detayları
| Ders Adı | Ders Kodu | Dönemi | Saati | Uygulama Saati | Laboratuar Hours | Kredi | AKTS |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Kalite Kontrol ve Metroloji | MFGE577 | Alan Seçmeli | 3 | 0 | 0 | 3 | 5 |
| Ön Koşul Ders(ler)i |
|---|
| N/A |
| Dersin Dili | İngilizce |
|---|---|
| Dersin Türü | Seçmeli Dersler |
| Dersin Seviyesi | Doktora |
| Ders Verilme Şekli | Yüz Yüze |
| Dersin Öğrenme ve Öğretme Teknikleri | Anlatım, Uygulama-Alıştırma, Sorun/Problem Çözme. |
| Dersin Öğretmen(ler)i |
|
| Dersin Amacı | Bu dersin amacı, metroloji ve kalite control kavramlarında öğrencilerin güçlü bir altyapı ve yetenekle donatmak, böylelikle müfettiş mühendis görevini icra edip, sanayinin kaliteli ürünler üretmesine yardımcı olmalarını sağlamaktır. |
| Dersin Eğitim Çıktıları |
Bu dersi başarıyla tamamlayabilen öğrenciler;
|
| Dersin İçeriği | Metrolojiye giriş, doğrusal, açısal ve karşılaştırmalı ölçümler, doğrusallık, düzlemsellik, karelik, paralellik ölçümlerinde kullanılan cihaz ve müşirler, sınırlar, müşirler, teftiş, sanayide kalite kavramı, kalite control de istatiksel kavramlar, SQC?de kontrol tabloları, numune teftişleri, operasyon karakteristiği (OC) diyagramı. |
Haftalık Konular ve İlgili Ön Hazırlık Çalışmaları
| Hafta | Konular | Ön Hazırlık |
|---|---|---|
| 1 | Bölüm 1: METROLOJIYE GIRIŞ: Metrolojinin tanımı, metrolojinin amacı, ölçümde tekrar edilebilirlik ve doğruluk, doğruluk ve maliyet, hata kaynakları, tekrar edilebilirlik kavramı, hassasiyet, okunabilirlik ve güvenilirlik. | |
| 2 | Bölüm 2: DOĞRUSAL ÖLÇÜM: Giriş, Vernier kumpasları ve kullanımı, vernier mikrometresi, tarifi ve kullanımı, vernier yükseklik müşiri, derinlik müşiri ve kayma müşiri | |
| 3 | Bölüm 3: AÇISAL ÖLÇÜM: Giriş, vernier ve optic Bevel açı ölçeri (iletkisi), Sinüs prensibi ve barı, açısal ölçüm için optik cihazlar, açı müşirleri, açı müşirlerinin kalibrasyonu. | |
| 4 | Bölüm 4: KARŞILAŞTIRMALI ÖLÇÜM: Karşılaştırıcılar, Karşılaştırıcıların özellikleri, kullanımı, sınıflandırılması, mekanik, optik, elektrik ve hava basınçlı karşılaştırıcıların avantaj ve dezavantajları, Optik ve hava basınçlı karşılaştırıcıların çalışma prensipleri | |
| 5 | Bölüm 5: DOĞRUSALLIK, DÜZLEMSELLİK, KARELİK, PARELELLİK ÖLÇÜMLERİNDE KULLANILAN CİHAZ VE MÜŞİRLER: Doğrusallığın tanımı, yüzeylerin düzgünlüğü, parelellik, doğrusallık, düzlemsellik ve paralellik testleri, dairesellik ölçümü | |
| 6 | Bölüm 6: SINIRLAR, ÖRTÜŞMELER VE MÜŞİRLER: Giriş, tolerans kavramı, değiştirebilirlik, aksam terimleri- temel ölçek, normal ölçek, sınırlar, sapma ve sıfır çizgisi, sınır sistemleri metodu- delik bazlı ve şaft bazlı. | |
| 7 | Bölüm 7: TEFTİŞ: Teftişe giriş ve teftişin tanımı, Teftiş prensipleri, Teftiş aşamaları, zemin teftişi - avantaj ve dezavantajlar. | |
| 8 | Bölüm 8: SANAYİDE KALİTE UNSURU: Kalite kavramı, tasarım kalitesi, uygunluk ve performans, güvenilirlik ve sürdürülebilirlik kavramı, kaliteyi etkileyen unsurlar, kalite çemberleri – temel kavram, amaç ve işlevsellik | |
| 9 | Bölüm 9: KALİTE KONTROLDE KULLANILAN İSTATİKSEL KAVRAMLARIN TEMELLERİ: Değişkenlerin çesiti, kalite karakteri çeşitleri: değişken, nitelik ve nitelik olarak kabul edilen değişkenler, frekans dağılımında kullanılan terminoloji, frekans dağılımının grafiksel gösterimi (histogram, frekans çubuk tabloları, frekans poligonu), Normal Dağılım eğrisi, tanımı ve çıkarımı. | |
| 10 | Bölüm 10: S.Q.C KONTROL TABLOLARI: X-R tablolarına giriş, X-R tablolarını oluşturmak için yapılması gerekenler, X ve R tablolarının analizi, işlem yeteneği kavramı, yüzde hatalı control tabloları (p-tablosu), p-tablosunun uygulaması, c-tablosuna giriş, c-tablosunun oluşturulması ve analizi. | |
| 11 | Bölüm 10: S.Q.C KONTROL TABLOLARI: X-R tablolarına giriş, X-R tablolarını oluşturmak için yapılması gerekenler, X ve R tablolarının analizi, işlem yeteneği kavramı, yüzde hatalı control tabloları (p-tablosu), p-tablosunun uygulaması, c-tablosuna giriş, c-tablosunun oluşturulması ve analizi. | |
| 12 | Bölüm 11: : NUMUNE ALMA TEFTİŞİ: Numune alma teftişinin amacı, numune alma teftişinin uygulaması, farklı numune alma teftişi çeşitleri, numune almanın avantaj ve dezavantajları, numune alma planın uygulanması, tek numune alma, çift numune ve ardışık numune alma planı. | |
| 13 | Bölüm 11: : NUMUNE ALMA TEFTİŞİ: Numune alma teftişinin amacı, numune alma teftişinin uygulaması, farklı numune alma teftişi çeşitleri, numune almanın avantaj ve dezavantajları, numune alma planın uygulanması, tek numune alma, çift numune ve ardışık numune alma planı. | |
| 14 | Bölüm 12: FAALİYET KARAKTERİSTİĞİ (OC) EĞRİSİ: OC eğrisinin tanımı ve tarifi, OC eğrilerinin farklı parametreleri -(Üreticinin riski, tüketicinin riski, Kabuledilebilir kalite Seviyesi (AQL), Kabuledilebilirlik sınırları, reddetme ve kararsızlık, OC eğrisi parametreleri arasındaki ilişki | |
| 15 | Dönem Sonu Sınav Çalışmaları | |
| 16 | Dönem Sonu Sınav Çalışmaları |
Kaynaklar
| Ders Kitabı | 1. Engineering Metrology, Khanna Publishers. R.K. Jain. |
|---|---|
| Diğer Kaynaklar | 2. Quality Control, Tata McGraw Hill Publishing Ltd. TTTI Madras |
| 3. Industrial Organisation, Khanna Publishers, T.R. Banga |
Değerlendirme System
| Çalışmalar | Sayı | Katkı Payı |
|---|---|---|
| Devam/Katılım | - | - |
| Laboratuar | - | - |
| Uygulama | - | - |
| Alan Çalışması | - | - |
| Derse Özgü Staj | - | - |
| Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği | - | - |
| Ödevler | 4 | 20 |
| Sunum | - | - |
| Projeler | - | - |
| Rapor | - | - |
| Seminer | - | - |
| Ara Sınavlar/Ara Juri | 2 | 50 |
| Genel Sınav/Final Juri | 1 | 30 |
| Toplam | 7 | 100 |
| Yarıyıl İçi Çalışmalarının Başarı Notu Katkısı | 70 |
|---|---|
| Yarıyıl Sonu Çalışmalarının Başarı Notuna Katkısı | 30 |
| Toplam | 100 |
Kurs Kategorisi
| Temel Meslek Dersleri | X |
|---|---|
| Uzmanlık/Alan Dersleri | |
| Destek Dersleri | |
| İletişim ve Yönetim Becerileri Dersleri | |
| Aktarılabilir Beceri Dersleri |
Dersin Öğrenim Çıktılarının Program Yeterlilikleri ile İlişkisi
| # | Program Yeterlilikleri / Çıktıları | Katkı Düzeyi | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | ||
| 1 | Bireysel ve ekip üyesi olarak ileri düzey araştırma faaliyetlerini yürütme yeteneği | X | ||||
| 2 | Araştırma konularını irdeleme, değerlendirme ve bilimsel muhakeme ile yorumlama yeteneği | X | ||||
| 3 | Yeni yöntemler oluşturma ve bunları özgün araştırma alanları ve konularına uygulama becerisi | X | ||||
| 4 | Deneysel ve/veya analitik verileri sistematik şekilde elde etme, bunları bilimsel sonuçlara ulaşacak şekilde tartışma ve değerlendirme yeteneği | X | ||||
| 5 | Bilimsel felsefe yaklaşımını mühendislik sistemlerinin analiz, modelleme ve tasarımında uygulayabilme becerisi | X | ||||
| 6 | Çalışmış olduğu sahadaki bilgiyi uluslararası düzeyde özgün çalışmaları oluşturacak, sürdürecek, tamamlayacak ve sunacak şekilde sentezleme yeteneği | X | ||||
| 7 | Çalıştığı mühendislik alanında bilimsel ve teknolojik gelişmelere katkıda bulunma | X | ||||
| 8 | Toplumu araştırma faaliyetleri aracılığıyla geliştirmek için endüstriyel ve bilimsel ilerlemelere katkıda bulunma | X | ||||
ECTS/İş Yükü Tablosu
| Aktiviteler | Sayı | Süresi (Saat) | Toplam İş Yükü |
|---|---|---|---|
| Ders saati (Sınav haftası dahildir: 16 x toplam ders saati) | |||
| Laboratuar | |||
| Uygulama | 16 | 2 | 32 |
| Derse Özgü Staj | |||
| Alan Çalışması | |||
| Sınıf Dışı Ders Çalışma Süresi | 16 | 5 | 80 |
| Sunum/Seminer Hazırlama | |||
| Projeler | |||
| Raporlar | |||
| Ödevler | 4 | 12 | 48 |
| Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği | |||
| Ara Sınavlara/Ara Juriye Hazırlanma Süresi | 2 | 8 | 16 |
| Genel Sınava/Genel Juriye Hazırlanma Süresi | 1 | 15 | 15 |
| Toplam İş Yükü | 191 | ||